|
advertisement |
|
|
|
|
|
|
Industrial Automatic Control Systems and Controllers Annotation << Back
Distance Estimation Method for Transition Holes of Application Specific Integrated Circuits on Gate-array |
I.M. Bulaev
The article describes distance estimation method for transition holes of application specific integrated circuits on gatearray topology, based on the Bayesian approach, which allows increasing the efficiency of metallization layers digital images processing during reverse engineering. An algorithm that implements the method is proposed.
Keywords: integrated circuit topology; integrated circuit metallization; application specific integrated circuits; optical microscopy; reverse engineering; digital image processing; transition holes.
DOI: 10.25791/asu.09.2019.859
Contacts: -
Pp. 49-53. |
|
|
|
Last news:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |