Промышленные АСУ и контроллеры Аннотация к статье << Назад Показатели адекватности структурированных систем оценки характеристик информационных процессов С.В. Скрыль, С.С. Никулин, А.М. Сычев, М.В. Пономарёв, Ле Ву Хыонг Занг В статье приводятся принципы построения структурированных систем оценки характеристик информационных процессов. Рассматриваются понятия гипотезы, аналогии и модели исследуемых процессов. Формулируется задача выбора адекватных вариантов построения структурированных систем оценки характеристик информационных процессов. Обосновываются показатель адекватности методического аппарата оценки характеристик информационных процессов и показатель адекватности методического аппарата математического моделирования. Приводятся выражения для определения численных значений этих показателей. Ключевые слова: структурированная система оценки характеристик информационных процессов; показатель адекватности методического аппарата оценки характеристик информационных процессов; показатель адекватности методического аппарата математического моделирования. Контактная информация: E-mail: zi@bmstu.ru Стр. 31-37.