Промышленные АСУ и контроллеры Аннотация к статье << Назад Подход к совмещению фрагментов цифровых изображений слоев кристалла интегральной микросхемы на базовом матричном кристалле М.Ю. Конышев, А.А. Двилянский, И.М. Булаев В статье рассмотрен подход к совмещению фрагментов цифровых изображений (ЦИ) слоев кристалла интегральной микросхемы на базовом матричном кристалле, основанный на использовании элементов ЦИ, содержащих контакты, для оценки параметров, позволяющих точнее позиционировать фрагменты изображения относительно друг друга в процессе их совмещения и корректировать ряд свойственных подобным ЦИ искажений. Ключевые слова: интегральная микросхема; базовый матричный кристалл; обратное проектирование; цифровое изображение; совмещение фрагментов цифровых изображений. Контактная информация: E-mail: misha-kon@mail.ru, E-mail: advil@mail.ru, E-mail: iliabulaev57@gmail.com Стр. 11-17.