|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Промышленные АСУ и контроллеры Аннотация к статье << Назад
Модель цифрового изображения слоя металлизации специализированной интегральной микросхемы на базовом матричном кристалле |
И.М. Булаев
В статье предложен способ параметрического моделирования цифровых изображений, подобных цифровым изображениям слоев металлизации кристаллов специализированных интегральных микросхем на базовом матричном кристалле. Предлагаемый способ моделирования учитывает особенности процесса и канала получения изображений слоев металлизации кристаллов микросхем в процессе обратного проектирования, а также особенности пространственного положения переходных отверстий. Представлен моделирующий алгоритм, разработанный на основе предлагаемой модели.
Ключевые слова: параметрическое моделирование изображений; специализированные интегральные микросхемы; базовый матричный кристалл; обратное проектирование.
DOI: 10.25791/asu.10.2019.936
Контактная информация: -
Стр. 40-48. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |