|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Промышленные АСУ и контроллеры Аннотация к статье << Назад
Модульный алгоритм проверки статистической неразличимости фильтрующих функций, представимых суммой двух функций от непересекающихся переменных |
Рожков М.И., Обросов П.А.
В данной статье предложен новый алгоритм проверки статистической неотличимости (относительно вероятностей выходных s-грамм) последовательностей, вырабатываемых функциями усложнения f:Xn→F2 по закону gi = f(xi,xi+1,…,xi+n-1), i = 1,2,…
При этом исходная последовательность x1,x2,… рассматривается как последовательность независимых одинаково распределенных случайных величин, заданных на входном алфавите X и принимающих значение x∈X с вероятностью px>0, ∑px=1. Данный алгоритм выявляет неотличимость выхода для заданной пары f,j функций усложнения от 2n переменных, которые представляются суммой двух функций от n непересекающихся переменных
Предложенный алгоритм использует модульные операции над целыми числами стандартной длины и имеет существенно меньшую вычислительную сложность по сравнению с известным ранее алгоритмом применительно к функциям общего вида от 2n переменных. Полученные результаты могут быть полезны при построении и обосновании статистических свойств генераторов случайных последовательностей, использующих соответствующие усложняющие преобразования промежуточных гамм.
Ключевые слова: статистическая неотличимость; статистическая эквивалентность; фильтрующая функция; булевы функции; m-граммы, криптография.
Контактная информация: E-mail: rozhkov.m.i@yandex.ru, E-mail: mobelus@mail.ru
Стр. 20-26. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |