|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Промышленные АСУ и контроллеры Аннотация к статье << Назад
Метод четности позиций для обнаружения кодочувствительных дефектов оперативной памяти
|
ВЫБОРНОВ П.В.
Представляется новый метод обнаружения пассивных и активных кодочувствительных дефектов. Метод обеспечивает получение всех возможных комбинаций в любой произвольной паре и триплете соседних ячеек, что обеспечивает 100 %-ное покрытие для дефектов, вовлекающих три и четыре ячейки (PSF3 и PSF4). Все необходимые наборы активации дефектов получаются посредством начальных заполнений массива, а активирующие переходы выполняются элементом неразрушающего маршевого теста {↑(re,wē,rē,we,re); ↑(re)}, проходы которого выполняются после каждого заполнения.
Ключевые слова: тестирование ОЗУ, кодочувствительные дефекты, маршевые тесты.
Контактная информация: E-mail: jaguey@rambler.ru
Стр. 46-54. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |