Промышленные АСУ и контроллеры Аннотация к статье << Назад Спектральный и временной методы измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов Смирнов В.И. Сергеев В.А. Гавриков А.А. Рассмотрены два метода измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов. Первый метод (стандарт JESD51-1) основан на измерении температуры р–п-перехода в процессе его нагрева ступенькой мощности. Во втором методе нагрев осуществляется мощностью, изменяющейся по гармоническому закону, а тепловое сопротивление определяется отношением первых гармоник температуры р–п-перехода и греющей мощности. С помощью моделирования показано, что оба метода дают одинаковые результаты. По точности спектральный метод превосходит стандарт JESD51-1, но уступает ему по продолжительности измерения. Ключевые слова: тепловое сопротивление; частотный метод; теплофизическая модель. Контактная информация: E-mail: a.gavrikoff@gmail.com Стр. 58-63.