Промышленные АСУ и контроллеры Аннотация к статье << Назад Алгоритм распознавания функциональных ячеек топологий интегральных микросхем на базовом матричном кристалле М.Ю. Конышев, А.В. Панкратов, И.М. Булаев В статье рассмотрен подход к предварительной обработке цифровых изображений слоев металлизации кристаллов полузаказных интегральных микросхем на базовом матричном кристалле, реализация которого позволяет эффективно выделять переходные отверстия (контакты) на подобных изображениях. Предложен алгоритм распознавания функциональных ячеек топологии интегральной микросхемы на базовом матричном кристалле по структурам, образуемым переходными отверстиями. Ключевые слова: полузаказные интегральные микросхемы, базовый матричный кристалл, инженерный анализ, обратное проектирование, цифровое полутоновое изображение, распознавание образов, оптическая микроскопия. Контактная информация: E-mail: misha-kon@mail.ru, E-mail: pank75_75@mail.ru, E-mail: iliabulaev57@gmail.com Стр. 15-22.