EN | RU    
Издательство научно-технической литературы
Поиск по сайту:

На главную»

Контакты»

Журналы»

Новости»

Оформление статей»

Реклама в журналах»

Обратная связь»

Книги»

О фирме»



 реклама



Промышленные АСУ и контроллеры

Аннотация к статье
<< Назад
Способ оценивания расстояний между переходными отверстиями топологий специализированных интегральных микросхем на базовом матричном кристалле
И.М. Булаев

В статье рассмотрен способ оценивания расстояний между переходными отверстиями топологий специализированных интегральных микросхем на базовом матричном кристалле на основе Байесовского подхода, позволяющий повысить оперативность процессов обработки цифровых изображений слоев металлизации интегральных микросхем, получаемых путем оптической микроскопии в процессе обратного проектирования. Предложен алгоритм, реализующий рассматриваемый способ.
Ключевые слова: топология интегральной микросхемы; металлизация интегральных микросхем; специализированные интегральные микросхемы; оптическая микроскопия; обратное проектирование; цифровая обработка изображений; переходные отверстия.


DOI: 10.25791/asu.09.2019.859

Контактная информация: -

Стр. 49-53.

 разделы

«О журнале

«Архив журнала

«Тематическая направленность журнала

«Правила оформления статей

«Этапы рассмотрения и публикации статей

«Правила рецензирования статей

«Редакционная и профессиональная этика

«Обнаружение плагиата

«Редакция и редакционная коллегия

«Новости журнала


 журналы
...................................
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика
...................................
Приборостроение и средства автоматизации. Энциклопедический справочник
...................................
Промышленные АСУ и контроллеры
...................................
Экологические системы и приборы
...................................
Авиакосмическое приборостроение
...................................
Инженерная физика
...................................
История науки и техники
...................................
Музыка и время
...................................
Нотный альбом
...................................
Музыковедение
...................................
Всеобщая история
...................................
Справочник инженера
...................................
Прикладная физика и математика
...................................
Известия академии инженерных наук им. А.М. Прохорова
...................................

Последние новости:

Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге

Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg

Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018»

ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы

Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018"

   Rambler's Top100 Rambler's Top100         


    Система управления разработана в: ananskikh.ru
© Издательство "НАУЧТЕХЛИТИЗДАТ", 2005-2024